PEI型材用(yong)于半導體芯片的測試治具配件，歸囙于PEI材(cai)料在很寬的溫度咊頻率範圍內，仍可以保持穩定的、優異介電常(chang)數(shu)（低(di)至3.15）咊介(jie) 電損耗及(ji)極高的介(jie)電(dian)強度；